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http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我们能做，欢迎咨询 预约须知 注意：预约前请提前与项目经理沟通。 1，粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg，块体样品直径小于3cm，厚度小于1cm。 2，如果样品由于您要求不喷金而导致效果不好，测试老师不安排复测。 3，请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；而且因隐瞒样品信息导致仪器损坏，需要您承担全部赔偿责任！！！ 扫描电子显微镜SEM 型号：jeol jsm7500f；Zeiss Gemini 300；Zeiss Sigma 500日立Regulus8100；Quanta FEG 250等 测试项目： 形貌、点扫、线扫、mapping 备注：非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求： 一、制样说明 粉末、液体、薄膜、块体均可测试，粉体样品大概10mg，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm 1、粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请提前说明； 2、液体样品，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明； 3，薄膜或块体，请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明 预约须知 注意：首次下单用户下单前请联系项目经理确认需求 1，粉体、液体、块体均可测试 2，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）； 3，一般制样选微珊铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；薄膜或块状样品需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等） 4，强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样 5，请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；而且因隐瞒样品信息导致仪器损坏，需要您承担全部赔偿责任！！！ 透射电子显微镜TEM 型号：FEI Tecnai F20, 日本电子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 测试项目： 可测项目：形貌、能谱点扫、能谱线扫、mapping、HAADF(STEM)、衍射 备注：非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求： 1. 样品状态 粉末、液体样品均可，薄膜和块体等无法直接测试，需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认