检测认证人脉交流通讯录
- X射线光谱膜厚仪的标准配备有WindowsXP中文操作界面。采用最新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 ，X射线光谱膜厚仪采用X射线光谱传导及放射原理，对物品进行照射，X射线光谱膜厚仪通过反射的射线得到我们所要的数据，X射线光谱膜厚仪这种非破式，并快捷简单的测量仪器，给我们带来很多方便，不需要请专业的工作人员，我们会去帮您装上高备并进行现场培训，也不需要复杂的对焦，我们的仪器有着非常优异的自动对焦功能，更可以在没有标准片的情况下，进行测量，大大节省了仪器操作上的时间，快速的得到结果，监测生产品质。期待与您的合作，我们的产品将是您最优的选择！
