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XDL,XUL,XAN膜厚测试仪

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    • XDL,XUL,XAN膜厚测试仪,是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计,此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理,符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外,还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单,菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪,极适合对一些较小的样板进行测量,尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等,操作员只需将测试面朝下,不论大小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便可立即测量,这不单可以令测量更快速,还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪,应用于各种大小不同的五金的测量(如:小螺丝、手表、眼镜、端子),大面积的样品(如:线路板),亦可测量药水含量(只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量,这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何,有效率地控制电镀生产,测贵金属成分可达到重复性约0.1%。菲希尔XDL,XUL,XAN膜厚测试仪,测量技术领先同行15年,在同测量领域独领风蚤,成为膜厚仪之王,精准的数据,高端先进的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。 联系人:王生:13316557996 电话:0755-29371655 传真:0755-29371653 www.kinglinhk.com 地址:宝安中心区宏发中心大厦

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