集成电路测试仪产品简介

·器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
·器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
·器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
·器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
·内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
·微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
·ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
·ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

集成电路测试仪适用范围

·维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
·破译被抹去型号集成电路的真实型号。
·烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
·开发各类智能电子产品，调试程序。
·检验新购器件的质量。

集成电路测试仪可测器件种类

·TTL74、54系列。
·TTL75、55系列。
·CMOS40、45、14系列。
·单片机系列。
·EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
·光耦合器，数码管系列。
·常用微机外围电路系列。
·其它常用电路及用户提供系列。
·运算放大器系列（单运放、双运放、四运放）。
·三端稳压器系列（78XX，79XX，317，337）。