三次元测量仪/三次元检测仪

　　蔡司公司自从1846年创立至今已有160余年历史，无论是光学镜头、玻璃、工业测量仪器、显微镜、医疗仪器等等在全球都居于前列。如今蔡司拥有员工35000多人,在德国本土以外有35个子公司,15个生产基地。

　　在三坐标测量仪器领域，1973蔡司成功制造出世界上第一台CNC三坐标测量机-UMM 500 ,在中高端市场，每年销售额占全球市场占有量的三分之一，世界第一位，面对全球众多的用户建立了庞大而高效的售后服务网络。至今在全球500强工业企业里，有90%以上公司用蔡司测量机来保证其品质。

　　CONTURA G2新一代的扫描平台: CONTURA G2 RDS和CONTURA G2 AKTIV：该机型采用最新设计，由基础机型升级到更灵活更高精度的机型，采用主动式扫描技术，非常适合中小型生产企业。蔡司公司一直都是独立研发和生产测量机的核心部件，在这方面拥有超过30年的独立研发和生产经验。

　　CONTURA G2 RDS

　　专为复杂零件的测量而设计，适于具有很多复杂角度，需要小探针的零件的测量。

　　蔡司RDS旋转探头，其旋转步距角为2.5?，可达到20736个空间位置。

　　RDS配置VAST XXT扫描探头，不仅可以实现旋转，同样可以实现扫描测量。

　　灵活的旋转测座结合扫描能力，能使探头满足许多测量上的应用需求。VAST XXT就是这样的一个探头。

　　作为传统触发式探头的替代品，VAST XXT有着更可靠的操作安全性以及更高的测量精度。并且还具有独一无二的扫描功能，使得物件表面外形的数据也能精确测量得到。

　　在旋转测座上设有轻便的扫描探头需要多种不同的模块。但是VAST XXT仅用了两种模块，便完全拥有了传统探针的长度范围。传感器的测针长度能达40mm，并且可以固定安装。

　　特殊的元件…

　　具有很多角度的零件或需要用非常小的探针测量的产品。这时，您就需要选择COTURA G2 RDS，其±180度的旋转范围，步距角2.5度，非常适合您这方面的测量需求。

　　如果说您需要…

　　测量一些深孔零件、自定心测量、形状位置公差的评定，而且要求高效率，那么您就需要选择CONTURA G2 aktiv，配备VAST XT高速主动式扫描系统。

　　扫描技术

　　CONTURA G2

　　您需要扫描吗?

　　扫描能帮助您获取更为详尽的工件信息。连续地扫描一些元素和轮廓，可以采集高密度的点，方便您评定零件的真实形状。扫描测量具有更高的可靠性和稳定性，而且效率很高。

　　零件的配合是否一致

　　一个用于装配在孔里的轴，如果仅采4个点进行评定，那么通过您评定的轴也不一定适合装配。因为这样评定出来的圆，仅仅是对轴真实位置和形状尺寸的大致猜测。而扫描则可以在短时间内采集大量的点，确保您获取最完整的零件几何信息(位置、形状和尺寸)，您可以测出轴的最大直径从而确定它是否可以装配到孔里。

　　最佳拟合的实例

　　采集4点，由最小二乘法评定的最佳拟合圆(1.黄色)

　　由扫描测量评定出的最大内切圆(2.绿色)

　　单点(采集4点，红色)

　　扫描(红色虚线)

　　(1)、(2)两圆圆心的不同坐标

　　圆柱测量

　　单点测量具有高的离散性和低的重复性，导致测量结果精度很低。而扫描测量是高密度采点，有低的离散性和高的重复性，确保了测量结果的高精度。

　　形状测量

　　通过扫描测量评定零件的形状，相对于单点测量，其重复性可以增加两倍，并可以减少测量结果的偏差，确保测量结果的稳定性。

　　元素局部测量

　　当我们需要测量一些几何元素(如球、圆锥、圆柱和曲面)的一小部分时，扫描可以向我们提供非常稳定的结果。比如测一小段内圆弧，单点测量得到的是完全不同的圆弧和圆心坐标;扫描测量则可以得到正确的重复性非常好的结果，而且测量速度很快。

　　Gage R&R评定的先决条件

　　在Gage R&R中，工件的找正是非常重要的。当工件被移动或重新放置后(如上图)，它很难再放在相同的位置，当仅测量4点时，就会导致测量结果的差异。如果采用扫描测试，无论工件怎么移动或重新放置，不需要放在相同的位置，您都可以得到正确的重复性非常好的结果。

　　单点测量：采集4点测量一个元素比如圆，位置一旦改变，您将得到完全不同的结果。

　　扫描测量：扫描采集大量的点，当元素位置改变，您可以得到正确的重复性很好的结果。

　　蔡司扫描技术的实质优点

　　可以快速扫描完成许多基本的测量任务。比如测量和评定箱体类零件上基本元素，如圆、圆柱、圆锥、平面的形状。

　　扫描测量已知和未知的曲线、曲面的轮廓，是工模具制造中理想的逆向工具。

　　自定心测量V型槽或其它凹坑

　　根据测量精度自动选择扫描速度。

　　CONTURA G2 RDS

　　RDS旋转探头座采用最先进的技术，可达到20736个空间位置，步距角2.5°，几乎可以达到任何特殊的角度位置。因此它非常方便用于测量一些具有很多方向而需要做很多探针组合的复杂工件。

　　选用RDS，一个工件仅用一根探针和一套夹具就可以完成测量。少量的探针组合就意味着更简单的零件测量程序编制，可以提高生产效率并节约大量时间。

　　RDS的空间位置及步距角

　　RDS能达到20736空间位置，步距角2.5°，几乎可以达到任何特殊的角度，如30°。普通的旋转探头仅有720空间位置，步距角仅7.5°，当测量一些特殊角度位置时，会因为无法到达而产生碰撞。RDS在A、B方向均可实现±180°旋转，步距角2.5°。而普通的旋转探头顶部有150?圆锥空间无法到达。

　　VAST XXT被动式扫描探头

　　现在，蔡司已经将VAST扫描技术应用于非常灵活的RDS探头座。作为触发式探头的替代品，VAST XXT具有触发式探头所不可比拟的测量性能、重复性和测量精度。拥有大的偏转空间和低的测力，VAST XXT是一个非常实用的探头系统。

　　探针最大可延长至250mm，可侧边连接或星形连接(侧边探针最长40mm)，最小探针直径可达到0.3mm。VAST XXT具有很低的测力并且受旋转的影响很小。

　　传感器有两种可以选择(30-125mm和125-250mm)。通过高效的CNC模式，探针校准将大大减少。

　　数字信号的传输可靠而准确。

　　直径达25mm的探针吸盘保证了高的重复性。

　　拥有±3mm的偏移空间，为探针在意外碰撞时提供更有效的保护。

　　部分自动配件，比如探针自动更换架。

　　VAST XXT应用举例

　　测量和逆向曲率大的小叶片。

　　扫描测量位于不同位置的槽的形状和位置。

　　用直径0.3mm探针测量孔径仅0.6mm的表座。

　　CONTURA G2 aktiv

　　配置高性能的DT探头，CONTURA G2 AKTIV可实现高性能的主动式单点测量，如果要采用ZEISS主动式扫描技术，那就需要选用VAST XT主动式扫描探头。

　　DT探测系统

　　DT探测系统采用的是内置的动态系统进行测量。在测量过程中不会产生探针的弯曲和滞后现象。测力在各个方向上都是独立的、恒定的。数据的采集方式是二次触发采点。二次触发采点是ZEISS的专利，指探针在接触到工件表面时，在非常微弱的测力下产生机械信号，探头在接收到这个信号后会先调整探针的位置，消除探针的弯曲等不利因素，然后触发采集数据。

　　普通的单点触发系统对零件材料的变化、探针的几何形状和周围环境的改变都非常敏感。相对于普通的单点触发系统，DT探头系统具有更高的可靠性、灵活性和重复性。

　　DT探头系统在复杂的探针结构使用上非常的灵活。ZEISS专利的自动探针平衡系统，允许探头承载重达500g的探针，甚至是单侧承载。同时探针吸盘上加工出深螺纹孔，这使我们的探针在各个方向可以延长至500mm。DT探头也可使用小至0.5mm的小探针测量小工件。各种探针都可以组装在一个简单的探针组合里。

　　DT探测系统具有自定心功能，可以实现如V形块、圆弧的特殊点(中心点)的测量，得到对零件的精确测量。

　　DT探测系统可以很方便的升级至VAST XT主动式扫描探头系统。这两类探头系统能使用相同的探针库位，能承载相同的探针组合和探针重量，探针吸盘和更换架也是通用的，而且也使用相同的软件编制和运行测量程序。

　　VAST XT主动式扫描探头

　　VAST XT不仅能够测量各种规则几何形体，而且非常适用于诸如曲线、自由曲面的测量以及逆向工程。

　　VAST XT可实现主动扫描测量和单点测量。其扫描速度快，采点密集，可完成形状位置的测量评定，可扫描曲线、自由曲面，进行逆向工程等测量任务。

　　VAST XT之所以是主动扫描探头，是因为整个系统连续监测探头的微小偏差，产生恒定的低测力，以减少探头在运动情况下产生的不利影响，比如探针的弯曲，以保证高的测量精度。

　　VAST XT还具有同DT探头相同的功能，比如复杂探针组件的使用、自定心功能等等。

　　如果你需要这方面的设备及服务，请与我司联系，为您提供更加个性化的服务。

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