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检测认证人脉交流通讯录

微焦点X射线检测系统(半导体、电子元器件、电池)(Semiconductor Applianees X-ray Lm

  • 这真不是您需要的产品?
  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • WJD-100 
  • 用  途:
  • 进行产品研究、失效分析、高可靠筛选、质量评价、改进工艺等工作
    •   仪器介绍:微焦点X射线实时成像检测系统,由高频高压微焦点X射线源、X射线图像传感器、计算机、四维机械平台等组成的微焦点X射线实时成像检测系统,是集现代计算机软件技术、精密机械制造技术、光学技术、电子技术、传感器技术、无损检测技术和图像处理技术等于一体的高科技产品。是进行产品研究、失效分析、高可靠筛选、质量评价、改进工艺等工作的有效手段。技术参数:高频高压装置;高压逆变频率:40 KHz;管电压调节范围:20~100 KV;管电流调节范围:10~500μA;最高额定管电流:500μA;焦点尺寸:50μ;冷却方式:风冷;系统分辨率大于50LP/cm;放大率最高240倍;机械检测平台;检测平台可沿X-Y-Z三轴移动,倾斜40度;有检测电气元器旋转架;X轴260mm;Y轴260mm;Z轴200mm;主要特点:适用于BGA、CSP、Flip、chip的检测;PCB板焊接情况检测;短路、开路、空洞、冷焊;IC封装检测;电容、电阻等元器件;金属材料、介质材料的内部缺陷;轻质材料的内部结构以及组件;电热管、锂电池、珍珠、精密器件等。

    丹东奥龙射线仪器有限责任公司

    谢晓燕

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