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KD-1型涡流测厚仪

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本仪器运用涡流法原理，采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示，可以方便无损地测量非铁磁材料上涂层的厚度。 ◎测量范围：0-1200um ◎测量精度：±（3%厚度值+1）um ◎存储容量：253个测量值（带日期）（可连接打印机）时钟、日期显示 ◎EL背光、全中文汉显、全属机壳 ◎测量材料：非铁基 ◎外型尺寸：50×95×24mm

上海隆拓仪器设备有限公司

徐先生

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