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探针轮廓仪(台阶仪)DEKATK150

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    • 集40多年的探针轮廓技术创新于一身,该系统在行业内的表现遥遥领先,以重现性最佳和标准扫描范围最大而著称。它提供各种各样的配置和附加选项,用于程序化测量、低探针力表征和细节分析 台阶仪 Dektak 150 表面轮廓仪(探针式) 规格: 测试技术:探针轮廓技术 测试功能:二维表面轮廓测试 样品视场:640*480像素,USB;17 inc 平板显示器 探针传感器:低惯量传感器(LIS 3) 探针压力:使用LIS 3传感器:1至15 mg 使用N-lite传感器:0.03至15 mg 探针选项:探针曲率半径可选范围:50 nm至25 um; 高径比针尖:10 um * 2 um 和200 um*20 um 样品载物台:手动X/Y/@:100*100 mm, 360度旋转,可手动校平; 可选Y自动移动载物台,100 mm行程,1um重现性,0.5 um分辨率; 可选X-Y自动移动载物台,150 mm行程; 1um重现率,0.5 um 分辨率 计算机系统: 主机使用celeron或者semprom处理器 软件:Dektak软件 台阶检测软件 可选应力测量软件 可选三维Vision分析软件 可选缝合软件 减震装置:可选桌式震动隔离装置 可选台式震动隔离装置 性能 扫描长度范围 55mm(2.1英寸) 每次扫描数据点 最多12万数据点 最大样品厚度 高达90 mm (4英寸),取决于配置 最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸) 台阶高度重现性 6埃 垂直范围:标准524um(0.02英寸);可选1mm 垂直分辨率:最大1A(6.55um垂直范围下) 尺寸:292 mm *508 mm*527 mm 重量:34 kg 电源要求: 输入电压: 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ
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    王小姐

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