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探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT

　　探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT　　布鲁克Dektak XT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品，Dektak XT实现了最高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代Dektak XT台阶仪，能够在微电子，半导体，超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT科学等行业实现纳米级表面形貌测量。　　 Dektak XT技术参数：　　1. 台阶高度重复性5Å 2. 单拱(Single-arch)设计大大提高了扫描稳定性　　3. 前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰　　4. 新的硬件配置使数据采集能力提高了40%　　5. 64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。　　6. 功能卓越，操作简易　　7. 直观的Vision64用户界面操作流程简便易行　　8. 针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事　　9. 台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位10. 单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围

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