检测认证人脉交流通讯录
探针轮廓仪（台阶仪）DEKATK150
- 用 途：
- 主要应用于薄膜厚度测量、样品表面形貌测量、薄膜应力测量、样品表面粗糙度/波纹度测量、以及样品表面三维形貌测量等。
- DEKTAK 150探针轮廓仪
测量重复性 6Å
扫描长度 50μm-55mm
单次扫描最大数据点 120,000个
允许样品最大高度 100mm (根据配置不同会有所变化)
垂直范围量程 524μm (1mm选配)
最高垂直分辨率 1 Å (6.55μm量程范围下)
样品台 150mm，X-Y-θ手动调节
探针压力范围 1-15mg (0.03mg选配)
Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的最新型探针式表面轮廓仪(台阶仪)产品，主要应用于薄膜厚度测量、样品表面形貌测量、薄膜应力测量、样品表面粗糙度/波纹度测量、以及样品表面三维形貌测量等众多领域。
Dektak 150集四十余年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于Windows XP的Dektak随机配备软件系统界面友好，为用户提供了完善的分析功能。“一键式”操作方式使得测量工作简单易行。通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。
铂悦仪器(上海)有限公司
相小姐
- 地址：
- 崇文区东兴隆街56号北京商界303室 北京办事处
