检测认证人脉交流通讯录
- DX-520L
X荧光光谱仪 主要性能优势：
集合了多年ROHS检测经验，对六种有害元素尤其是Br、Cl等卤素进行了优化；模块化的功能设计理念便于应对指令进行、检测元素内容的升级；更为精巧的工艺，实现小体积样品的检测；更智能、方便的测试分析软件，操作人性化、功能强大化；全光路射线防护系统配合三重安全防护设计，同时采用软硬件双重安全连锁，确保辐射安全性能。
X荧光光谱仪 产品特点：
操作界面简单，测量方便，快捷
无损检测，在无标准样品时亦可准确分析
采用125±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。
进口高端DSP数字信号处理芯片
能够检测卤族元素的精确含量
电控全自动机盖升降 软件独立控制
同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位
电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的延长X光管的寿命
外观高贵大方，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰
采用独特双峰位快速自动校准。
自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成
国际领先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等
客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法
设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。
X荧光光谱仪 应用范围：
针对企业应对欧盟、北美RoHS环保指令精心设计。不但可以测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、锑、硒、砷等重金属，还能测试无卤素指令的溴、氯等有害元素及金属镀层。对镁.铝.硅.磷.硫等轻元素探测灵敏度高,已在有色金属、连接器、端子、印刷、玩具、服饰、医疗设备、地矿、电子、电器、五金、PCB、半导体、通信、电镀、首饰、手表、汽车、钢铁、鞋材、皮革等行业得到广泛应用。
X荧光光谱仪 技术指标
型号： DX-520L
SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK
探头尺寸 25mm2
测试对像： 粉未、固体、液体
元素分析范围： 钠（Na）－铀（U）
同时最多可测元素： 36种
含量分析范围： 1ppm～99.99%
工作稳定性： 总荧光强度为0.1％
测试时间： 60～200秒
探测器分辨率： 125eV±5
进口高端DSP数字信号处理芯片 64位处理
电控全自动机盖升降 软件独立控制
多道分析器： 2048道
X射线光管： 功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo
高压电源： 电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%
外型尺寸： 720mm×520mm×360mm(不包括支脚)
测量仓： 590mm×400mm×120mm
重量： 70Kg
最低检出限： Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
金属成分分析
可分析各种金属成分分析,对镁铝等轻金属探测更为灵敏
可对矿石进行成分分析和含量分析
镀层技术参数：
可测镀层数： 最多可达5层
镀层种类： 单金属镀层、合金镀层
镀层识别精度： 最薄可测试0.005μm。
厚度测试范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um
X荧光光谱仪 标准配置
配置 数量 单位
仪器主机部分主要配置
1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK 1 套
2.低功率X光管 1 个
3. 高压电源 1 个
4. 2048道数字多道分析器 1 套
5. 进口高端DSP数字信号处理芯片 1 片
6. 高精密CCD 1 个
7. 滤光片组 5 组
8. 准直器：直径为0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的准直器 6 个
9.电控全自动机盖升降 1 套
仪器外围配置
计算机：联想电脑一套
1 套
2. 彩色喷墨打印机 1 台
3. 银校正片 1 片
4. 塑料标准样品: EC681K 1 袋
5. 样品杯、麦拉膜 若干
软件配置
RoHS/无卤检测专用软件 1 套
元素分析专用软件 1 套
镀层测试专用软件(选购) 1 套
