检测认证人脉交流通讯录
株式会社Techno X
高感度荧光X线分析仪 WFD-70
单色仪配备了激发源，是一种高灵敏度测量轻元素的优质机种。
中重元素测量是以2次对象法技术。
纸浆和纸张分析，高精密石油，铝矽·氯等轻元素的分析。
特征
装载由单色照片法的激发源：具有双重弯曲单色激发光源配备，可以高灵敏度来测量轻元素。
无液氮：搭载新开发的探测器(SDD)，无需液氮装置。
测量元素范围广：可以测量9F~92U的元素。
规格
X射线源 钯(Pd) 额定输出 50kV -2mA（最大） 探测器类型 SDD（Sillicon Drift Detector） 测量方法 单的法，两次对象技术 探测器冷却 帕尔贴热制冷（无需液氮） 曝光面积 5mmφ,15mmφ 设备尺寸 500(W)×500(D)×550(H)mm 样品室尺寸 无 重量 约50公斤 安全机制 联锁 软件 测量软件·控制分析软件 电脑 笔记本电脑（标准），台式电脑（可选） 操作系统 Windows7
