检测认证人脉交流通讯录
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冠层分析系统是一种半球形的成像技术,可以方便、准确测定光学辐射和树冠结构参数,具有良好的稳定性,使用更多的森林和农田生态系统。植物树冠内的光环境在很大程度上取决于树本身的结构。目前，已经有学者将冠层分析系统用在苹果、梨、柿、核桃等果树上，研究其冠层结构光辐射特征，作为判断树体结构是否合理的重要指标，但针对板栗冠层结构光辐射特征的研究甚少。
叶面积指数是研究植物许多生物化学过程的关键参数和研究植被冠层结构的重要指标，其大小与植被种类、生长周期、叶倾角、叶簇以及非叶生物量等因素有关，此外还受叶面积指数的定义和冠层分析系统测定方法的影响。因此，对于特定对象应该选择适宜不同算法。以LAI为体系的基本反演算法，在对叶面积指数进行数据分析之前，应筛选出适宜板栗叶面积指数的计算方法，而冠层分析系统试验中往往忽略了这一步，只是盲目的参考已有的计算方法。
除平均叶倾角和冠上总辐射以外，其他冠层特征参数因树体不同差异很大。平均叶倾角与其他冠层结构光辐射参数间的相关性不显著，冠层分析系统分析冠上辐射与冠下辐射间的相关性不显著，其他冠层结构光辐射参数间均存在极显著相关性。
资料来源：http://www.tpny17.com/ 冠层分析系统
