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- 半导体器件参数测试仪SC2520
一、半导体器件参数测试仪SC2520产品概述
半导体器件参数测试仪SC2520是一款通用型分立器件参数测试设备，可测试多种半导体器件的静态直流参数，测试仪可单机工作，也可连接上位机程控测试，测试速度快，精度高，测试电压达2.5KV，电流达200A，基本可以覆盖绝大多数中小功率单管及模块的测量，测试数据可单机实时读取，也可上位机生成TXT或EXCEL报表导出，方便用户使用。
二、产品功能
半导体器件参数测试仪SC2520主要测试半导体器件的种类和参数如下：
MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss
IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices
BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices
DIODE：Vfd、Vr
ZENER：Vfd 、Vz
TVS：Vfd 、Vz
LED：Vfd、 Vr
RES：R（针对大电流小阻值取样电阻）
OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco
MOV：压变电阻Vc
RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V释放
三、技术参数
项目 参数 单位
电流档 0~100mA 分辨率 0.01 mA
电流档 100~1000mA 分辨率 0.1 mA
电流档 1~10A 分辨率 1 mA
电流档 10~200A 分辨率 10 mA
脉冲电流档位 四 档
档位步进 0.01 %
脉冲宽度 500 us
开路输出电压 ≥60 V
正向压降测量范围 0~10 V(100-200A)
正向压降测量范围 0~60 V(≤100A)
栅极输出电压 ±30 V
栅极漏电流测试范围 600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA
栅极漏电流带快速充电功能 有
耐压电压 0~2500 Vdc
耐压电流 0~2μA
0~20μA
0~200μA 0~2000μA
漏电电流一键 zero 校零技术 漏电分辨率可达 100pA
可手动按钮触发，也可脚踏触发功能 有
隔离的 RS-485 通讯端口 有
RS-485 接口升级软件 有
供电电压 220 VAC
四、应用领域及场景
>测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)
>失效分析(对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)
>选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
>来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率)
>量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试)
