赛默飞世尔科技的 Talos   F200X S/TEM 融合了高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行业 X 射线能量色散谱（EDS） 信号检测，以及通过成分面扫实现三维化学表征等功能。利用 智能扫描引擎、基于多个STEM    探测器的四通道合并技术，以 及微分相位衬度（DPC）成像技术，赛默飞世尔科技  Velox    S/ TEM  控制软件显著地改善  S/TEM  成像质量，可以更好地分析 电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理及定量分析。
赛默飞世尔科技的高亮度 X 场发射电子枪可以在提供高达标准 肖特基场发射电子枪五倍束流的同时保持较小的会聚角。用户 可以获得高信噪比及STEM、EDS   图像分辨率和更多高 分辨  TEM应用。此外，X  场发射电子枪所具有的高稳定性及使 用寿命长等特点使其具有更高的成像效率。
显示范围更广、获取图像速度更快Talos  快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位动态成像。赛默飞世尔科技的 Ceta 16M  相 机的视场范围更大，图像采集速率可高达每秒 25 帧。同时压电 样品台可以确保高灵敏度，无漂移成像及精确样品导航。因此    Talos  在节约用户时间的同时可以采集更多样品数据。
赛默飞Talos  F200X扫描/透射电子显微镜加快纳米尺度范围内分析解决问题的速度。
Talos  F200X 采用赛默飞世尔科技保护的Super-X  集成 EDS 系统，它配备了4 个硅漂移 X 射线探测器 (SDD)，具有  灵敏度，每秒可收集高达 105 幅能谱。通过 Super-X  与   A-TWIN 物镜集成，Talos  F200X 限度地提高了 X 射线收 集效率，同时达到给定束流下（即使对低强度 EDS 信号）的理  想输出计数率。
赛默飞实验室设备主要优势：
提供更优质的图像：  同时进行多重信号探测的高效率 STEM 成像技术为高质量的图像提供了更好的图像对比度
快速获取化学成分数据：快速，精确定量 的 EDS 分析技术以 揭 示纳米级成分细节。
更多应用空间：利用专用的各种原位样品杆进行原位动态实验让研究更轻松。
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