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日本J-RAS离子迁移测试装置

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    • 日本J-RAS离子迁移测试装置 追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。 ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统,并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。 作为系统构成我们准备了40CH/100CH型,可以根据您的预算、设置空间来进行选择。 高机能 *用PC设定试验条件之后,就可以不使用PC来继续进行试验。 *使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制,试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。 *HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的 *没有通信机能的HAST/试验槽,也可以通过模拟输入来监视湿度 产品优势 简单/便利 △采用高性能驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。 △软件设计简单明了,能够非常直观得操作。 △配有过程中的记录、报告相关的报表功能。 △测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。 高性能&高机能 △因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。 →迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。 △一台电脑最大可以增设400通道。 △每个通道可以设定不同的电压。 可靠性更高&操作更简洁 △具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。 △配有CF卡,以防设备故障数据丢失。 △每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。 △标准配置也可以接入1~300V的电压范围。 用途 △PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。 △作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。 实例 △测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。 △16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。 △电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。 计测Channel数 10CH 计测电阻值范围 2kΩ~10TΩ DCbias印加 电压范围 2范围 (1.0~30.0V,30.1~300.0V) 电压范围设定 1组(5CH) 电压级别设定 Channel个别 设定分解能 0.1V 设定精度 ±{0.3%(F.S.)+0.5}V 最大输出电流 700μA/CH DCbias计测 计测范围 2范围 (0~33V,0~330V) 计测精度 ±{0.3%(F.S.)+0.5}V 计测分解能 0.1V~(整数+小数点以下1行表示) AD转换器 24bits⊿∑AD转换器/CH 计测速度 16msec/10CH 电流计测 计测方式 CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 计测范围 5范围(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA) 计测范围设定 CHANNEL个别或者自动范围 计测精度 ±0.3%(F.S.) 计测分解能 1pA~(有效数字4行表示) AD转换器 24bits⊿∑AD转换器/CH 计测速度 16msec/100CH 制御Channel数 5~100CH(5Channel单位) 数据收录 试验制御单位 1组(5CH) 试验设定小时 1分~9999小时 收录间隔(定期) 1分~60分 收录间隔(ECM发生时) 16msec 收录媒体 Compact flashcard 其他 主PC通信机能 LAN接触口×1 环境试验机通信机能 RS-232C接触口×2 外部输入1 接点输入×4(联动装置,紧急停止制御可) 外部输入2 电压输入(1-5V)×2,电流输入(4-20mA)×2(温度·温度记录可) 自动校正 bias输出补正,异常leak电流检测 http://www.sz-skyan.com/Products-13799230.html https://www.ybzhan.cn/st133409/product_13799230.html
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