检测认证人脉交流通讯录
- 产品介绍
华科智源基于多年可靠性测试经验所研发的功率器件动态可靠性测试系统PSL-DHTGB适用于SiC-MOSFET 单管和模块的动态可靠性测试。通过自主设计的驱动电源/驱动电路/测试工装等关键零部件，获得市场上最优化的开关速度与开关频率，其测试效果已获得世界知名厂商认可。
测试能力
参考标准
AQG-324，JEP184，JEP183A
适配样品 SiC MOSFET功率器件
单管 TO-247-3L/4L，TOLL等
模块 Tpak，easy1B/2B/3B，HPD等
优势
产品规格
测试项目 DHTGB（DGS）动态栅极偏置可靠性测试
Vgs 典型测试范围：-10~22V
频率范围
单管 TO247-3L/4L：0~500kHz
模块 Easy1B/2B ：0~200kHz
模块 HPD ：0~100kHz
（根据器件与安装条件取最优值调节）
占空比 10~90%（根据器件与安装条件取最优值调节）
dV/dt ≥1V/ns（根据器件与安装条件取最优值调节）
过冲 0（根据器件与安装条件取最优值调节）
监控参数 Igss ，Vth，波形（选配），外壳温度（选配）
加热/冷却方式 风冷鳍片，水冷板+水冷机（选配），加热板（选配） 其中 风冷鳍片的降温效果取决于设备所处实验环境， 水冷板的降温效果取决于外接水冷机的冷却水温度， 加热板最高温度至200℃。
最大容量
单体测试柜
单管：18颗/层，叠加5层，共 90颗；
半桥模块（以Easy1B为例）：9个/层，叠加5层，共45个； 三相模块（以HPD为例）：3个/层，叠加5层，共15个；
单个主机柜最多可连接3个测试柜。
深圳市华科智源科技有限公司
- 地址：
- 深圳市宝安区航城鹤洲洲石路739号恒丰工业城C栋816
