检测认证人脉交流通讯录
- OLPF安装在阵列式光电成像器件(如CCD、CMOS)前面，以消除高于光电成像器采样空间频率的物
光束成份对成像的干扰。由于CCD、CMOS光感应元件是采用非连续性取像方式，所以有拍摄细纹时
会产生不必要的杂讯，光学低通滤波晶片即是提供消除此杂讯的功能。因细纹的方向不同需要用对
应角度的低通滤波晶片加以消除，又因不同的型号CCD、CMOS光感应元件在规格上有些差异，为针
对不同型号及同时兼顾不同方向的低通效果，所以需用各种不同切割角度（如45度、0度、90度）、
片数、厚度和IR CUT组合成低通滤波晶片设计，才能去除拍摄所带来的杂讯。在使用CCD、CMOS光感
应元件拍摄彩色景物时，因CCD、CMOS对颜色的反应与人眼不同，所以必须将光感应元件所能侦测的
而人眼无法侦测的红外线部份除去，同时调整可见光范围内对颜色的反应，使影像呈现的色彩符合
人眼的感觉，所以在低通滤波晶片表面镀上IR（AR）CUT（干涉式）或配玻璃（吸收式）使用。
技术指标
材料：光学水晶
角度：可根据OLPF设计要求制作
尺寸：1/3、1/4等（外形可根据客户要求制作）
厚度： 单片（1.08、1.22、1.63）
双层（1.85、1.97、2.78）
三层（2.58、3.03、3.43）
镀膜：AR、IR、夜视IR
光谱透过率
日夜 普通
波长(n m) 透过率(%)波长(n m)透过率(%)
400--620Tavg≥93400--620Tavg≥93
400--620Tmin≥88400--620Tmin≥88
650±10T = 50 650±10T = 50
720 T < 2720 T < 2
740~1050Tavg< 1.5740~1050Tavg< 1.5
1050-1100Tavg< 41050-1100Tavg< 4
850±10 T > 90
