一、设备型号及名称

        CST-50M夏比冲击试样缺口投影仪

二、设备用途与特点

        夏比冲击试验对于冲击试样缺口要求严格，缺口的微小变化，都会引起试验结果出现误差，为保证加工出的冲击试样缺口合格，缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。目前用光学投影放大检查是唯一切实可行，并能保证冲击试样缺口质量的方法。CST-50M型夏比投影仪是我公司根据ASTM E23-02a《材料缺口试样标准冲击试验方法》7.1.3和GB/T229-2007对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型(深2mm)和U型(深2mm)冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，是广大冶金、锅炉压力容器、车船和工程机械制造及科研等部门理化实验室的必备专用设备。本设备是利用光学投影方法，将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。本设备仅需电源，操作简便，检查对比直观，效率高，体积小，便于移动，易维护。突出特点：本设备屏幕上标有明显刻度，并标有公差带、角度值和深度线，可精确读出缺口误差，满足美标、欧标ASTM E23，EN 10045，ISO 148，ISO 83、GB/T229-2007等一些国际相关标准的要求。也可根据客户的要求定做，满足检测3mm或5mm冲击试样缺口的需要。

三、主要技术规格

1、放大倍数：50× 物镜放大倍率：2.5× 投影物镜放大倍率：20×

2、投影屏直径：Φ200 mm

3、工作台尺寸：方工作台：(110×125)mm圆工作台：Φ90 mm工作台玻璃直径：Φ70 mm

4、工作台行程：纵向：±10 mm横向：±10 mm升降：±12 mm(无刻度)

5、工作台转动范围：0°-360°（无刻度)

6、光源(卤钨灯)：12V 100W

7、电源：220V 150W

8、外形尺寸(长×宽×高)：(510×220×600)mm

9、重量：约20kg