检测认证人脉交流通讯录
影像测量工具显微镜系列：
X,Y轴测量范围：100X100mm或150X100mm
Z轴测量范围：50mm或100mm(可选)
滚柱轴承导轨，光电钢质光栅尺，分辨率：0.1um
SCHOTT冷光源，光纤照明；亮度可调
测量精度：1.5 um + 0.005L um
三轴电机驱动控制
IMS或OMS测量分析软件
外型尺寸：450mm X 508mm X 590mm
最大承重：8Kg；仪器重量：75Kg
特型显微镜：SM 棒型显微镜，ZM1 定中心显微镜，FLZ 校准显微镜
FRT纳米表面测量仪，白光干涉仪
***粗糙度测量***轮廓测量***三维形貌测量 德国FRT测量系统应用于所有类似的表面分析，采用一个或多个传感器高精密的测量轮廓 、 粗糙度、形貌特征和薄膜厚度等。适合研究开发和生产质量控制，仪器采用光学传感器进行非接触无损伤测量，工作距离大，快速输出2D,3D测量数据。 应用范围：精密光学元件轮廓和粗糙度测量，半导体元件，微电子，纳米材料分析，摩擦分析，薄膜厚度测量，微细结构分析等。
