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覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240

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    • 涂层测厚仪概述 TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。 符合以下标准: GB/T 4957-1985 涡流方法 JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》 JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪 涂层测厚仪技术参数 测头类型:N 测量原理:电涡流 测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬) 低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um) 探头连接方式:分体式导线连接 示值误差: 一点校准(um):±[3%H+1.5] 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5] 测量条件: 最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10 基体最小面积的直径(mm):ф5 最小临界厚度(mm):0.3 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH 统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 上下限设置:无 存储能力:350个测量值 打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑 关机方式:手动和自动 电源:二节AA型碱性电池 外形尺寸:152×47×35mm 重量:370g

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