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  • 《微电子器件试验方法和程序》GJB548A-1996方法1005A、1006、1015A,《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005方法1005.1、1006、1015.1,《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法1026、1027,《电子及电气元件试验方法》GJB360A-1996方法108,《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009方法108,《微电子器件试验方法标准》MIL-STD-883H:2010 方法1005.9、1006、1015.10,《存储寿命》JESD22-A103C:2004,《寿命试验》JESD22-A108C:2005

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