检测认证人脉交流通讯录
元器件破坏性物理分析密封检测
这真不是您需要的服务？
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对应法规：
CNAS认可项目：是 - 1、GJB 4027A-2006军用电子元器件破坏性物理分析方法2、GJB 5914-2006各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法3、GJB3233-1998半导体集成电路失效分析程序和方法4、GJB3157-1998半导体分立器件失效分析方法和程序,1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-20062、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-20063、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-19984、《半导体分立器件失效分析方法和程序》 GJB3157-1998
