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  • 微电子器件试验方法和程序GJB548A-1996方法1005A、1006、1015A,微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005方法1005.1、1006、1015.1,半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法1026、1027,电子及电气元件试验方法GJB360A-1996方法108,电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法108,微电路试验方法标准MIL-STD-883H:2010 方法1005.9、1006、1015.10,存储寿命JESD22-A103C:2004,寿命试验JESD22-A108C:2005

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