检测认证人脉交流通讯录
半导体材料电阻率(电阻系数)检测
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对应法规：
CNAS认可项目：是
- 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法GB/T 1551-2009,硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法GB/T 1552-1995,硅片电阻率测定 扩展电阻探针法GB/T 6617-2009,硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定GB/T 14141-1993,硅单品电阻率测定方法GB/T 1551-2009,硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 GB/T 6617-2009,硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法GB/T 14141-1993
