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国家有色金属及电子材料分析测试中心

检测认证人脉交流通讯录
  • 硅研磨片及电阻率及硅片径向及电阻率变化检测

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  • 对应法规:
    CNAS认可项目:是
  • 硅单晶电阻率测定方法GB/T1551-2009,半导体硅片电阻率及硅薄膜层电阻测定 非接触涡流法GB/T 6616-2009

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