技术指标:1.加速电压 : 200KV 2.点分辨率 : 0.24nm 3.线分辨率 : 0.10nm 4.STEM分辨率 : 0.20nm 5.倾斜角 : ±25º
仪器用途:能对微观形貌、晶体结构、化学成份、界面结构、表面缺陷等进行观测和分析,广泛应用于纳米材料、催化剂、高分子材料、金属材料、半导体材料、地质矿物、生物医学等领域。
收费标准:1200元/小时
机组负责人:戴郁菁,朱晓舒 13951011737,13515113586 zhuxiaoshu@njnu.edu.cn
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