常熟理工学院分析测试中心

技术指标：1、X光源：Mo ,Cu双光源系统（软件自动切换） 2、探测器：4K CCD二维探测器 3、测角仪：固定κ轴的3轴测角仪 4、软件：使用图形用户界面的单晶帧数据获取和成像软件；面探测器数据收集整体方案最优化组织软件；SHELXTL结构解析和精修软件。 5 、液氮低温系统：温度控制范围：90K ~ 400K；控温精度：+/? 0.1 K 6、循环水冷系统：水温、水压与流量满足发生器要求，有过热保护，能连续工作，控温精度优于±2 K。

仪器用途：X射线单晶分析装置用以测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。

收费标准：①测晶体结构（常温） 250元/样 ②测晶体结构（低温） 400元/样 ③测晶胞参数 60元/样

机组负责人：唐晓艳  0512-52251849;13814948042  tangxy@cslg.edu.cn