技术指标:主机:X射线发生器 3KW 测角仪:最小步进 0.0001度 重复性 0.0001度
仪器用途:应用于各种材料结构分析,如金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。对无机材料以及部分高分子多晶体材料进行定性、定量分析,对固体材料进行择优取向分析以及残余应力分析,测定未知晶体结构。
收费标准:①定性物相分析(少于30min) 100元/样 ②慢扫(大于60分钟) 80元/小时/样 ③晶粒大小测定(计算) 150元/样
机组负责人:沈磊 051252251849;18913642652 leishen@cslg.edu.cn