技术指标:性能指标: 测试材料: 硅、锗等 样片电阻率范围: 0.1 - 1000Wcm 激光波长: 904nm 光斑直径: 10mm2 微波源: 可调频率10.3GHz 少子寿命测试范围: 100ns - 20ms 测试分辩率: 0.1% 测试时间: 30ms/数据点 可以提供单点或连续测试
仪器用途:硅片、棒的出厂、进厂检查
收费标准:500
机组负责人:吴静 13685202986 jing.wu@youzetech.com
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