技术指标:
仪器用途:适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构。
收费标准:面谈
机组负责人:何仁玲 0519-81238801 herenling@163.com
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