检测认证人脉交流通讯录
- 仪器名称：光学膜厚仪
- 价格型号：ST2000-DLXn
- 仪器分类：其它
- 应用领域：
- 所属单位：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
- 所在地点：
- 产 地：
- 产 商：KMAC
- 价 值：0
- 购置日期：0000-00-00
技术指标：技术参数： 测量方法： 非接触式 测量原理：反射计 类型：手动的 平台尺寸： 4" （可选6" ）活动范围：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 ：200?~ 35?(根据膜的类型) 光斑尺寸：20? 典型值 （可选10?、50?）测量速度：1~2 sec./site 物镜转换器：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型：12V 35W Tungsten-Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer 尺寸：190 x 265 x 316 mm 重量：12Kg 探头类型：三目探头可供选择：标准样品(K-MAC or KRISS or NIST)
仪器用途：检测
收费标准：120元/小时
机组负责人：张嫔 0512-62872625 pzhang2008@sinano.ac.cn
